Guide
실무 가이드
샘플링 간격, 창 함수, 스캔 영역을 어떻게 선택할지 구체적인 기준으로 정리했습니다.
샘플링 간격
일반적으로 파장의 1/2 이하를 권장합니다. 간격이 커질수록 고주파 성분이 왜곡될 수 있습니다.
- 고주파 성분을 유지하려면 더 촘촘한 간격이 필요합니다.
- 간격을 넓히면 측정 시간은 줄지만 스펙트럼 aliasing 위험이 증가합니다.
창 함수 선택
Hann/Hamming/Blackman은 누설을 줄이는 데 유리합니다. 분해능과 누설 사이의 트레이드오프를 고려하세요.
- Hann: 누설 완화와 분해능의 균형
- Hamming: 부엽 억제 강화
- Blackman: 누설 최소화, 분해능 감소
스캔 영역
스캔 영역이 좁으면 원거리장 패턴이 왜곡됩니다. 가능한 한 넓은 영역을 확보하세요.
- 주요 방사 영역이 포함되도록 스캔 범위를 설정하세요.
- 경계 근처의 신호는 급격히 줄어들도록 설계하는 것이 좋습니다.
위상 보정
프로브 위치 오차와 위상 오프셋이 결과에 큰 영향을 줍니다. 측정 전 보정이 필수입니다.
- 기준면과 측정면의 정렬 오차를 최소화합니다.
- 측정 장비의 위상 기준을 일정하게 유지합니다.